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![]() 铁电HfxZr1-xO2薄膜中晶相组成、唤醒效应和耐久性能的相关性
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Danyang Chen; Shuman Zhong; Yulong Dong; Tianning Cui; Jingquan Liu; et al 出版日期:2023-05-22 |
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