标题 |
Synaptic Emulation via Ferroelectric P(VDF-TrFE) Reinforced Charge Trapping/Detrapping in Zinc–Tin Oxide Transistor
锌锡氧化物晶体管中铁电P(VDF-TrFE)增强电荷俘获/去俘获的突触模拟
相关领域
材料科学
铁电性
神经形态工程学
薄膜晶体管
光电子学
晶体管
纳米技术
|
网址 | |
DOI | |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|