标题 |
Bias stress stability in n-type polymer thin film transistors
n型聚合物薄膜晶体管的偏压稳定性
相关领域
材料科学
阈值电压
光电子学
晶体管
电极
退火(玻璃)
热稳定性
聚合物
电子迁移率
电压
有机半导体
场效应晶体管
薄膜晶体管
纳米技术
电气工程
复合材料
化学工程
化学
图层(电子)
物理化学
工程类
|
网址 |
求助人暂未提供
|
DOI |
暂未提供,该求助的时间将会延长,查看原因?
|
其它 |
Bias stress stability in n-type polymer thin film transistors Manikanta Makala, Derek Dremann, Maciej Barlog, Mohammed Al-Hashimi, Oana D. Jurchescu |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|