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 Reliability of HfO2-Based Ferroelectric FETs: A Critical Review of Current and Future Challenges HfO2基铁电场效应晶体管的可靠性：当前和未来挑战的评论
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期刊：Proceedings of the IEEE 作者：Nicolò Zagni; Francesco Maria Puglisi; Paolo Pavan; Muhammad A. Alam 出版日期：2023-02-01 |
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