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 Surface recombination probabilities of H on stainless steel, a-Si:H and oxidized silicon determined by threshold ionization mass spectrometry in H2 RF discharges H2射频放电中H在不锈钢、a-Si：H和氧化硅上的表面复合概率
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期刊：Surface Science 作者：Patrick Kae-Nune; J. Perrin; J. Jolly; Jean Guillon 出版日期：1996-07-01 |
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