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 The effect of sample edge recombination on the averaged injection-dependent carrier lifetime in silicon 样品边缘复合对硅中注入相关载流子平均寿命的影响
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：Michael Kessler; Tobias Ohrdes; Pietro P. Altermatt; Rolf Brendel 出版日期：2012-03-01 |
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