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Scanning capacitance microscope methodology for quantitative analysis of p-n junctions
扫描电容显微镜定量分析p-n结
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网址
https://doi.org/10.1063/1.370584
DOI
10.1063/1.370584 doi
其它 期刊：Journal of Applied Physics
作者：Vladimir V. Zavyalov; J. S. McMurray; C. C. Williams
出版日期：1999-06-01
求助人
hhhh 在 2024-12-26 20:35:25 发布自上海，悬赏 10 积分
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