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Performance Analysis of AlN/GaN HEMTs on β-Ga2O3 Through Exploration of Varied Back Barriers: An Investigative Study for Advanced RF Power Applications 通过探索不同背势垒分析β-Ga2O3上AlN/GaN HEMTs的性能:先进射频功率应用的调查研究
相关领域
材料科学
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高电子迁移率晶体管
氮化镓
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期刊:Journal of Electronic Materials 作者:Rama Venkatesan; Rajeswari Manickam; Brindha Duraipandi; Krishnapriya Kottakkal Sugathan 出版日期:2024-05-06 |
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