Reliability forecasting and Accelerated Lifetime Testing in advanced CMOS technologies

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标题	Reliability forecasting and Accelerated Lifetime Testing in advanced CMOS technologies 先进CMOS技术中的可靠性预测和加速寿命测试相关领域可靠性（半导体） CMOS芯片可靠性工程晶体管质量（理念）计算机科学电子工程工程类电气工程电压功率（物理）物理量子力学哲学认识论
网址	https://doi.org/10.1016/j.microrel.2023.115261
DOI	10.1016/j.microrel.2023.115261 doi
其它	期刊：Microelectronics Reliability 作者：Karan Singh; Shruti Kalra 出版日期：2023-10-20
求助人	浅斟低唱在 2025-04-04 10:42:00 发布自黑龙江，悬赏 10 积分
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