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  Basal Plane Dislocation Slip Band Characterization and Epitaxial Propagation in 4H SiC 4H SiC基面位错滑移带表征及外延传播
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期刊：Defect and diffusion forum/Diffusion and defect data, solid state data. Part A, Defect and diffusion forum 作者：Gil Yong Chung; Robert D. Viveros; Charles Lee; Andrey Soukhojak; V.V. Pushkarev; et al 出版日期：2023-05-31 |
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