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 Metal-insulator phase transition in aVO2thin film observed with terahertz spectroscopy 用太赫兹光谱观察AVO2薄膜中的金属-绝缘体相变
相关领域
材料科学
相变
凝聚态物理
电介质
太赫兹辐射
相（物质）
金属-绝缘体过渡
金属
物理
量子力学
光电子学
冶金
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| 其它 |
期刊：Physical Review B 作者：Peter Uhd Jepsen; Bernd Fischer; Andreas Thoman; H. Helm; Jae Yong Suh; et al 出版日期：2006-11-06 |
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