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 Effects of Sn Doping on the Electrical Performance and Stability of Sub-V Operating Metal-Oxide Thin-Film Transistors Fabricated by Oxygen Annealing 锡掺杂对氧退火亚V工作金属氧化物薄膜晶体管电学性能和稳定性的影响
相关领域
薄膜晶体管
材料科学
兴奋剂
氧化物
无定形固体
退火（玻璃）
晶体管
氧气
阈值电压
光电子学
电气工程
纳米技术
化学
电压
图层（电子）
有机化学
冶金
结晶学
工程类
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| 其它 |
期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Sang-Joon Park; Tae‐Jun Ha 出版日期：2023-04-01 |
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