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Hall and Seebeck measurement of ap-nlayer stack: Determining InN bulk hole transport properties in the presence of a strong surface electron accumulation layer
ap-nlayer堆叠的霍尔和塞贝克测量:在强表面电子积累层存在下确定InN体空穴输运性质
相关领域
塞贝克系数
电阻率和电导率
霍尔效应
类型(生物学)
兴奋剂
堆栈(抽象数据类型)
材料科学
电导率
物理
凝聚态物理
分析化学(期刊)
计算机科学
化学
量子力学
地质学
古生物学
色谱法
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期刊:Physical Review B 作者:Oliver Bierwagen; Soojeong Choi; James S. Speck 出版日期:2012-04-09 |
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