标题 |
Revealing the Structure/Property Relationships of Semiconductor Nanomaterials via Transmission Electron Microscopy
用透射电子显微镜揭示半导体纳米材料的结构/性能关系
相关领域
纳米材料
材料科学
纳米技术
半导体
纳米机电系统
电子全息术
透射电子显微镜
光电子学
纳米颗粒
纳米医学
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期刊:Advanced Functional Materials 作者:Peili Zhao; Yongfa Cheng; Lei Li; Shuangfeng Jia; Xiaoxi Guan; et al 出版日期:2024-07-06 |
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