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 P‐23: Effect of Buffer Layers on Performance and Reliability of Polycrystalline Silicon TFTs Fabricated on Polyimide P-23：缓冲层对在聚酰亚胺上制造的多晶硅TFT的性能和可靠性的影响
相关领域
材料科学
多晶硅
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期刊：SID Symposium Digest of Technical Papers 作者：Chan-Jui Liu; Chien-Tao Chen; Hung‐Wei Li; Chih‐Hung Tsai; Hsueh‐Hsing Lu; et al 出版日期：2017-05-01 |
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