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Effects of specimen tilt in ADF-STEM imaging of a-Si/c-Si interfaces
试样倾斜对a-Si/c-Si界面ADF-STEM成像的影响
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期刊:Ultramicroscopy 作者:Zhiheng Yu; David A. Muller; J. Silcox 出版日期:2007-08-15 |
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