标题 |
In-situ SEM and TEM Nanomechanical Study of Wear and Failure Mechanisms
磨损失效机理的原位扫描电镜和透射电镜纳米力学研究
相关领域
原位
材料科学
动作(物理)
法律工程学
纳米技术
复合材料
工程类
化学
物理
量子力学
有机化学
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DOI | |
其它 |
期刊:Microscopy and Microanalysis 作者:Sanjit Bhowmick; Eric Hintsala; Douglas Stauffer; S.A. Syed Asif 出版日期:2018-08-07 |
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