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Probing Surface Dynamics of SiOx Thin-Film Electrodes during Cycling through X-Ray Photoemission Spectroscopy and Operando X-Ray Reflectivity
用X射线光电发射光谱和Operando X射线反射率探测SiOx薄膜电极循环过程中的表面动力学
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期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 作者:Zijie Lu; Khawla Zrikem; Frédéric Le Cras; Masatomo Tanaka; Mitsunori Nakamoto; et al 出版日期:2024 |
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