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 Diffraction-Based Multiscale Residual Strain Measurements 基于衍射的多尺度残余应变测量
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期刊：Microscopy and Microanalysis 作者：Namit Pai; Sanjay Manda; Bhargav Rajesh Sudhalkar; Bethany Syphus; David T. Fullwood; et al 出版日期：2024-03-06 |
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