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Non-parametric inference based on reliability life-test of non-identical coherent systems with application to warranty time
基于非相同相干系统可靠性寿命试验的非参数推理及其在保修时间中的应用
相关领域
担保
可靠性(半导体)
参数统计
计算机科学
蒙特卡罗方法
推论
危害
可靠性工程
加速寿命试验
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统计
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期刊:Reliability Engineering & System Safety 作者:Xiaojun Zhu; N. Balakrishnan 出版日期:2023-01-13 |
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