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 Measurements of low-frequency noise for testing the reliability of VLSI interconnects of mixed geometry 用于测试混合几何结构VLSI互连可靠性的低频噪声测量
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期刊：AIP conference proceedings 作者：Payreddy Supraja; N. Bhandhavya; P. Bala Srinivas; Mahesh K. Singh 出版日期：2024-01-01 |
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