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 Decoupling the Effects of Interface Chemical Degradation and Mechanical Cracking in Solid‐State Batteries with Silicon Electrode 硅电极固态电池界面化学降解和机械开裂影响的解耦
相关领域
材料科学
硅
电极
复合材料
降级（电信）
化学稳定性
解耦（概率）
化学工程
冶金
电子工程
化学
物理化学
控制工程
工程类
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| 其它 |
期刊：Advanced Materials 作者：Hanyu Huo; Yang Bai; Sebastian L. Benz; Timo Weintraut; Shuo Wang; et al 出版日期：2024-12-20 |
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