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Cobalt related defect levels in silicon analyzed by temperature- and injection-dependent lifetime spectroscopy
用温度和注入相关寿命光谱分析硅中钴相关缺陷能级
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:S. Diez; Stefan Rein; Thomas Roth; Stefan W. Glunz 出版日期:2007-02-01 |
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