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 书籍（章节） Crystal imperfection broadening and peak shape in the Rietveld method Rietveld方法中的晶体缺陷展宽与峰形
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期刊：Oxford University Press eBooks 作者：Robert Delhez; T.H. de Keijser; J. I. Langford; D. Louër; E. J. Mittemeijer; et al 出版日期：1993-04-01 |
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