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Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
扫描电子显微镜和X射线微量分析。J.戈尔茨坦、D。纽伯里、D。乔伊、C。莱曼、P。埃奇林、E。利弗申、L。索耶和J。迈克尔。纽约全会出版社Kluwer Academic2003年,688页(精装本,$75.00)是十亿0-306-47292-9
相关领域
微量分析
扫描电子显微镜
显微镜
电子显微镜
X射线
材料科学
分析化学(期刊)
光学
化学
物理
色谱法
有机化学
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其它 |
期刊:Choice Reviews Online 作者:Robert Edward Lee 出版日期:1993-04-01 |
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