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Low-damage electron beam lithography for nanostructures on Bi2Te3-class topological insulator thin films
Bi2Te3级拓扑绝缘体薄膜纳米结构的低损伤电子束光刻
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Molly P. Andersen; Linsey K. Rodenbach; Ilan T. Rosen; Stanley C. Lin; Lei Pan; et al 出版日期:2023-06-23 |
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