| 标题 |
  Characterization of electronic charged states of high density self-aligned Si-based quantum dots evaluated with AFM/Kelvin probe technique 用AFM/Kelvin探针技术表征高密度自对准硅基量子点的电子电荷态
相关领域
开尔文探针力显微镜
量子点
偏压
扫描探针显微镜
伏打电位
分子物理学
原子力显微镜
基质（水族馆）
原子物理学
材料科学
化学
电压
光电子学
纳米技术
物理
海洋学
量子力学
地质学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Japanese Journal of Applied Physics 作者：Yuki Imai; Katsunori Makihara; Noriyuki Taoka; Akio Ohta; Seiichi Miyazaki 出版日期：2022-03-28 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
剑指东方是为谁
HEIKU
YifanWang
iNk
从容芮
nozero
迷人秋烟
坚强的严青
yyds
斯寜
核桃
热闹特派员
back you up
Simran
小乔
MchemG
MH
贰鸟
mkeale
在封我就急眼啦
皖公网安备34019202002308
