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![]() (SrxCay)F2薄膜表面取向和摩尔比对金属/氟化物/GaAs结构电学特性的影响
相关领域
X射线光电子能谱
氟化物
分析化学(期刊)
材料科学
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色谱法
冶金
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Masahiko Yamamoto; Tohru Negishi; Jotaro Igarashi Jotaro Igarashi; Hideaki Ikoma Hideaki Ikoma 出版日期:2002-10-02 |
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