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  Influence of Hole Current Crowding on Snapback Breakdown in Multi-Finger MOSFETs 空穴电流拥挤对多指MOSFET回弹击穿的影响
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期刊：IEEE Access 作者：S.-W. Lee; Seongyeon Kim; Haesoon Oh; Jaesung Sim; Woo Young Choi 出版日期：2023-01-01 |
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