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![]() 快速功率脉冲下SiC MOSFET高周疲劳状态下的可靠性
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期刊:Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena/Solid state phenomena 作者:Christian Schwabe; Niklas Seltner; Thomas Basler 出版日期:2024-08-26 |
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