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 A new Feature Pyramid Network with Bidirectional Jump Connection Network for Small Defect Detection on Solar PV Wafer 用于太阳能光伏晶片小缺陷检测的双向跳转连接特征金字塔网络
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期刊：IEEE Sensors Journal 作者：Fan Shi-hang; Shengjian Guo; Jiangbo He; Jianan Wei; Long Wen 出版日期：2024-07-17 |
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