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 Fault Localization of Temperature-Dependent Digital Circuit Functional Failures Utilizing the Scan-based Bench Testing and the Dynamic Analysis by Laser Simulation (DALS) 基于扫描台架测试和激光模拟动态分析（DALS）的温度相关数字电路功能故障定位
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期刊： 作者：Edward Bryan T. Pineda 出版日期：2022-07-18 |
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