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Electric-Field-Induced Metal Filament Formation in Cobalt-Based CBRAM Observed by TEM
电场诱导钴基CBRAM金属细丝形成的TEM观察
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期刊:ACS applied electronic materials 作者:Yeon-Joon Choi; Suhyun Bang; Tae-Hyeon Kim; Kyungho Hong; Sungjoon Kim; et al 出版日期:2023-03-08 |
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