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 Determination of the point resolution of high-resolution transmission electron microscope using the through-focus technique 通过聚焦技术测定高分辨透射电子显微镜的点分辨力
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期刊：Micron 作者：Kurio Fukushima; Yoshio Taniguchi; M. Matsushita; Masaaki Sugiyama; Kenji Kaneko 出版日期：2024-07-01 |
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