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 Multiphase Reset Induced Reliable Dual-Mode Resistance Switching of the Ta/HfO2/RuO2 Memristor Ta/HfO2/RuO2忆阻器多相复位诱导的可靠双模电阻开关
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期刊：ACS Applied Materials & Interfaces 作者：Dong Hoon Shin; Hyungjun Park; N. Ghenzi; Yeong Rok Kim; Sang‐Wook Cheong; et al 出版日期：2024-03-21 |
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