标题 |
Effect of temperature cycling on the leakage mechanism of TSV liner
温度循环对TSV衬里泄漏机理的影响
相关领域
材料科学
微观结构
复合材料
温度循环
开裂
渗透(战争)
泄漏(经济)
降级(电信)
失效机理
冶金
电子工程
物理
热的
经济
宏观经济学
运筹学
气象学
工程类
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:Si Chen; Xiaodong Jian; Kai Li; Guoyuan Li; Zhizhe Wang; et al 出版日期:2023-02-01 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|