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![]() 基于修正物理寿命模型的SiC功率MOSFET模块功率循环建模与寿命评估
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期刊:IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者:Hsien‐Chie Cheng; Ji-Yuan Syu; He-Hong Wang; Yan-Cheng Liu; Kuo‐Shu Kao; et al 出版日期:2024-02-13 |
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