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 Quantification of Defects with Point-Focusing Shear Horizontal Guided Wave EMAT Using Deep Residual Network 基于深度残差网络的点聚焦剪切水平导波EMAT缺陷量化
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期刊：2022 IEEE 20th International Conference on Industrial Informatics (INDIN) 作者：Hongyu Sun; Songling Huang; Shen Wang; Wei Zhao; Lisha Peng 出版日期：2021-07-21 |
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