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  Characterisation of defects in porous silicon as an anode material using positron annihilation Doppler Broadening Spectroscopy 正电子湮没多普勒展宽光谱表征阳极材料多孔硅中的缺陷
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多普勒展宽
多孔硅
正电子湮没谱学
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期刊：Applied Nanoscience 作者：W.J. Legerstee; T. Noort; T. K. van Vliet; H. Schut; Erik M. Kelder 出版日期：2022-07-26 |
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