标题 |
Dopant-defect interactions in highly doped epitaxial Si:P thin films
高掺杂外延Si:P薄膜中的掺杂-缺陷相互作用
相关领域
掺杂剂
兴奋剂
退火(玻璃)
外延
材料科学
薄膜
分析化学(期刊)
亚稳态
化学气相沉积
空位缺陷
矿物学
结晶学
化学
纳米技术
光电子学
复合材料
图层(电子)
有机化学
色谱法
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Thin Solid Films 作者:Z. Weinrich; X. Li; Shashank Sharma; V. Crăciun; MARWA TARIQ AHMED; et al 出版日期:2019-05-27 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|