标题 |
Investigation of low to high-dose gamma-ray (γ-ray) radiation effects on indium-zinc-oxide (IZO) thin film transistor (TFT)
低至高剂量γ射线对铟锌氧化物薄膜晶体管(TFT)的影响研究
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期刊:Solid-State Electronics 作者:Do-Kywn Kim; Dong‐Seok Kim; Tae-Eon Kim; Minju Kim; Seung Heon Shin 出版日期:2024-05-01 |
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