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 A new high-voltage H2S single noxious gas reliability test for power modules 一种新的电源模块高压H2S单一有害气体可靠性测试
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：T.N. Wassermann; Oliver Schilling; K.‐H. Müller; A.D. Rossin; Jan Uhlig 出版日期：2019-09-01 |
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