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 Refractive indices of InAlAs and InGaAs/InP from 250 to 1900 nm determined by spectroscopic ellipsometry 用光谱椭偏法测定InAlAs和InGaAs/InP在250~1900 nm的折射率
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期刊：Applied Surface Science 作者：H.W. Dinges; H. Burkhard; R. Lösch; H. Nickel; W. Schlapp 出版日期：1992-01-01 |
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