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Defect Analysis of MBE Reactor-Grown HgCdTe on Si, GaAs, GaSb, and CZT Substrates Through the TNL-Epigrow Simulator
通过TNL-Epigrow模拟器分析MBE反应器在Si、GaAs、GaSb和CZT衬底上生长的HgCdTe的缺陷
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期刊:Journal of Electronic Materials 作者:P. Saxena; Pankaj Srivastava; Anshika Srivastava 出版日期:2024-04-22 |
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