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![]() 全息干涉测量在包装应用中面内和面外错位和变形测量中的应用
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期刊:Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering/Proceedings of SPIE 作者:Vladimir V. Nikulin; Rahul Khandekar; Vijit Bedi 出版日期:2015-05-14 |
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