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  Parametric Faults Detection in Analog Circuits using Variable Ranking-based Feature Selection Method and Optimized SVM Model 基于变秩特征选择方法和优化SVM模型的模拟电路参数故障检测
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期刊：Measurement Science Review 作者：G. Puvaneswari 出版日期：2025-02-01 |
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