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![]() 基于宽带隙半导体异质结构的界面缺陷工程促进深紫外光检测
相关领域
光探测
半导体
异质结
带隙
光电子学
材料科学
紫外线
宽禁带半导体
光电探测器
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期刊:Inorganic Chemistry Frontiers 作者:Han Wu; Lincong Shu; Sihan Yan; Shulin Sha; Qinghua Zhang; et al 出版日期:2025-01-01 |
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