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 Electrical Degradation of N-Channel Poly-Si TFT under AC Stress 交流应力下N沟道多晶硅薄膜晶体管的电学退化
相关领域
薄膜晶体管
材料科学
降级（电信）
压力（语言学）
阈值电压
晶体管
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硅
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电气工程
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哲学
图层（电子）
工程类
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期刊：Electrochemical and Solid-State Letters 作者：C. W. Chen; Tien–Chun Chang; Po‐Tsun Liu; Hau‐Yan Lu; T. M. Tsai; et al 出版日期：2005-01-01 |
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