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Superlattice effects and limitations of non-destructive measurement of advanced Si/Si1-xGex superlattice structures using Mueller matrix scatterometry (MMSE) and high-resolution x-ray diffraction (XRD)
用穆勒矩阵散射法(MMSE)和高分辨率x射线衍射(XRD)无损测量高级Si/Si1-xGex超晶格结构的超晶格效应和局限性
相关领域
超晶格
X射线晶体学
材料科学
衍射
高分辨率
X射线
分辨率(逻辑)
基质(化学分析)
光学
结晶学
光电子学
物理
计算机科学
化学
复合材料
人工智能
地质学
遥感
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