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 (Invited) Patterning of Embedded STT-MRAM Devices: Challenges and Solutions （特邀）嵌入式STT-MRAM器件的图案化：挑战与解决方案
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期刊：ECS Meeting Abstracts 作者：Ivan L. Berry; Jong Chul Park; Jong-Kyu Kim; Byoung Koun Min; Thorsten Lill; et al 出版日期：2018-07-23 |
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